NICU：耐碳青霉烯革兰阴性菌所致晚发型败血症危险因素及临床结局

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检索：刘聚源
翻译：田媛媛
审核：石尚世 刘聚源


编者按

当前，耐碳青霉烯革兰阴性菌（CR-GN）导致的败血症已成为全世界医院面临的主要威胁。而在新生儿重症监护病房（NICU），则更是临床医生面临的一项重要挑战。由CR-GN引起的新生儿晚发型败血症（CR-GN-LOS），使患儿的治疗过程更为复杂，预后更差。因此，正确识别NICU中CR-GN-LOS发生的危险因素，掌握其流行病学特征，对实施恰当的感染控制措施，降低感染率，显得十分重要。在下面这篇文章中，研究人员就此问题通过实施前瞻性的观察性研究，对NICU中CR-GN-LOS的流行情况、危险因素及临床结局进行了研究。
 
新生儿重症监护室中耐碳青霉烯革兰阴性菌所致晚发型败血症的危险因素及临床结局
 
目的：评估NICU患者中耐碳青霉烯革兰阴性菌所致晚发型败血症（CR-GN-LOS）的流行情况，并确定其发生的危险因素及结局。


方法：对患有碳青霉烯敏感的革兰阴性菌所致晚发型败血症（CS-GN-LOS）的新生儿与CR-GN-LOS的新生儿患者，进行为期两年的观察性比较研究。


结果：158名GN-LOS患儿中，100名患儿存在CS-GN-LOS， 58名患儿存在CR-GN-LOS。CR-GN-LOS的发病率为6.5例/ 1000住院天数。两组中最常见的菌株是肺炎克雷伯菌。


持续全胃肠外营养（TPN）（p = 0.006）及碳青霉烯类药物使用史（p = 0.01）是获得CR-GN-LOS的独立危险因素。CR-GN-LOS相比CS-GN-LOS，具有更高的死亡率（p = 0.04）。


出生体重、低胎龄、肠内营养起始时间、使用纯配方奶粉、手术史、抗真菌药物使用史、发病前使用过中心静脉置管、中心静脉置管持续时间和感染性并发症是GN-LOS新生儿总死亡率的相关危险因素。


然而，只有男性（p=0.04）和感染性并发症（p˂0.001）是与死亡相关的独立危险因素。与CS-GN-LOS相比，CR患儿的感染性并发症发生率、机械通气时间和住院时间均较高。


结论：持续TPN和碳青霉烯类药物使用史是获得CR-GN-LOS的独立危险因素。CR-GN-LOS与较高的死亡率、感染性并发症发生率、较长时间机械通气和住院时间相关。男性和感染性并发症是GN-LOS新生儿死亡的独立危险因素。


表1   新生儿GN-LOS的致病菌及其对碳青霉烯类药物的易感性（2014年8月-2016年10月）





 表2  CS-GN-LOS与CR-GN-LOS患儿的人口统计学数据和基线特征





数据以均数±标准差、中位数（四分位数间距）*、数量（百分数）表示。


表3  新生儿CR-GN-LOS危险因素的单因素和多因素分析





表4  CR-GN-LOS和CS-GN-LOS新生儿的临床结局





 表5 GN-LOS新生儿的总死亡率危险因素的单因素和多因素分析



 
文献来源：Nour I, Eldegla HE, Nasef N, Shouman B, Abdel-Hady H, Shabaan AE. Risk factors and clinical outcomes for carbapenem-resistant Gram-negative late-onset sepsis in a neonatal intensive care unit[J]. J Hosp Infect. 2017 Sep;97(1):52-58.

图文编辑：小小牧童